Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Электронная книга
- Автор: И. О. Атовмян
- Издатель: Синергия
- Год: 2014
- ISBN:
- Цена: 79.9 Руб.
Знание - мощная сила, и книга - непревзойденный аккумулятор познаний. И не только их... И это блестящий образец такой работы, которая дает новые сведения из разных областей, в том числе помогает увидеть новые пути к получению информации - "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств"
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Надеемся, что "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств" окажется полезной и поможет разобраться со своими проблемами и помочь другим.






