The Organic Garden
Allan Shepherd
Выражаем надежду, что "The Organic Garden" будет полезной и поможет в деле обустройства приусадебного ...
Atomic Force Microscopy. Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Электронная книга
- Автор: Greg Haugstad
- Издатель: John Wiley & Sons Limited (prof)
- Год:
- ISBN: 9781118360699
- Цена: 10372.09 Руб.
Знание - оружие, и книга - неиссякаемый фонд знания. И путеводная нить... И это достоверный вид такого рода работы, что дарит новые сведения, в том числе полезные для самостоятельного понимания некоторых аспектов сложного мира человеческой цивилизации - "Atomic Force Microscopy. Understanding Basic Modes and Advanced Applications"
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions. “Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com”
Выражаем надежду, что "Atomic Force Microscopy. Understanding Basic Modes and Advanced Applications" вооружит вас знаниями и поможет познать и изменить некоторые особые аспекты бытия.
